當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室 > 老化房 > AP-LF-8A1電子產(chǎn)品高溫老化房 環(huán)境試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述:電子產(chǎn)品高溫老化房是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),顯示器,終端機(jī),車(chē)用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程。
詳細(xì)介紹
品牌 | 愛(ài)佩科技 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
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尺寸 | 根據(jù)客戶需求設(shè)計(jì) |
電子產(chǎn)品高溫老化房是針對(duì)電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),顯示器,終端機(jī),車(chē)用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計(jì)算機(jī)、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等,通過(guò)此測(cè)試程序可檢杳出不良品或不良件,是客戶迅速找出問(wèn)題、解決問(wèn)題提供有效手段。
電子產(chǎn)品高溫老化房技術(shù)參數(shù):
內(nèi)箱尺寸:3000 *1700 *1100mm (W* H *D)
滿足標(biāo)準(zhǔn):·GB/TT2423.2-2008試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法等
溫度范圍:RT+20~100℃
升降溫速率:(非線性 空載)約3℃/min
溫度穩(wěn)定度:±0.5℃
溫度解析度:0.01℃
溫度均勻度:±2.0℃
高溫超溫保護(hù):運(yùn)轉(zhuǎn)控制溫度高、低溫過(guò)溫保護(hù)設(shè)定
測(cè)試區(qū)超溫保護(hù):加裝超溫保護(hù)裝置,以防控制器有異常狀況發(fā)生時(shí)導(dǎo)致溫度過(guò)高損壞測(cè)試樣品。
故障檢知控制界面:外部故障自動(dòng)偵測(cè)保護(hù)裝置
動(dòng)態(tài)高低溫保護(hù):配合設(shè)定條件動(dòng)態(tài)調(diào)整高低溫保護(hù)值.
常溫保護(hù):停機(jī)后機(jī)臺(tái)待測(cè)品&測(cè)試區(qū)自動(dòng)降常溫保護(hù)
內(nèi)外箱材質(zhì):測(cè)試區(qū)內(nèi)箱不銹鋼板 (SUS#304),外箱烤漆或不銹鋼
同溫層結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):有效避免箱體頂部凝結(jié)之技術(shù)
測(cè)試孔:可外接測(cè)試電源線及信號(hào)用 (直徑50mm)
機(jī)臺(tái)滑輪:采滑輪移動(dòng)調(diào)整擺放位置與強(qiáng)力螺栓固定位置(200Kg / 輪 )
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