電模塊交變循環(huán)沖擊試驗箱

電模塊交變循環(huán)沖擊試驗箱主要是測試電子產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗，主要用于各種各類型的電子產(chǎn)品在模擬冷溫、熱溫時溫度瞬間變化的氣候條件下的適應性試驗，對電子產(chǎn)品的物理以及其相關性能進行測試或試驗，大概詳情如下：

1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價電子產(chǎn)品可靠性達到預定指標的情況；

2.生產(chǎn)電子產(chǎn)品階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息；

3.對電子產(chǎn)品的定型進行可靠性鑒定或驗收；

4.暴露和分析電子產(chǎn)品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及有關的失效模式和失效機理；

5.為改進電子產(chǎn)品的可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

電模塊交變循環(huán)沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)如下：

標準沖擊箱內(nèi)箱尺寸大小可選擇:

容積27升對應的:寬30x高30x深30cm;

容積50升對應的:寬36x高35x深40cm;

容積80升對應的:寬50x高40x深40cm；

容積100升對應的:寬60x高40x深40cm；

容積150升對應的:寬60x高50x深50cm；

容積250升對應的:寬70x高60x深60cm；

溫度范圍：低溫（A：-40；B：-55；D：-65）~高溫+150℃

高溫發(fā)熱區(qū)高溫度：+60℃~+200℃

低溫制冷區(qū)低溫度：-10℃~-75℃;

升溫時間(高溫發(fā)熱區(qū)) ：RT~200℃約需35min

降溫時間(低溫制冷區(qū)) ：RT~-70℃約需85min

溫度恢復時間/轉(zhuǎn)換時間：≤5min內(nèi)/≤10sec內(nèi)

溫度控制精度/分布精度：±0.5℃/±2.0℃