電模塊高低溫沖擊試驗(yàn)箱

電模塊高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要是測試電子產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于各種各類型的電子產(chǎn)品在模擬冷溫、熱溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，對(duì)電子產(chǎn)品的物理以及其相關(guān)性能進(jìn)行測試或試驗(yàn)。

電模塊高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)如下：

內(nèi)腔尺寸：50升:36×35×40；80升：50×40×40；100升：60×40×40；150升：60×50×50 ；250升：70×60×60；480升：60×80×70 ；1000升：100×100×100 ；

循環(huán)沖擊溫度范圍可選：低溫（A：-40℃~+150℃；B：-55~℃+150℃；C：-65~℃+150℃）溫度循環(huán)沖擊恢復(fù)時(shí)間： 3~5min內(nèi)；溫度循環(huán)沖擊移動(dòng)時(shí)間： ≤10sec內(nèi)。

溫度控制精度：±0.5℃；分布精度：±2.0℃

高溫儲(chǔ)溫區(qū)高溫度：+60℃~+200℃

低溫儲(chǔ)溫區(qū)低溫度：-10℃~-75℃;

升溫時(shí)間(蓄熱區(qū)) ：RT~200℃約需35min；降溫時(shí)間(蓄冷區(qū)) ：RT~-70℃約需85min

加熱器: 鰭片式散熱管鎳鉻合金U型加熱器，自動(dòng)演算高*確度PID+SSR控制（演算周期：1～4S可設(shè)），使其熱損耗量與加熱量相當(dāng)，故比傳統(tǒng)ON/OFF控制省電約30%。

控制方式與特色︰利用高溫及低溫蓄熱蓄冷儲(chǔ)存槽，依動(dòng)作需要打開DAPER，達(dá)到快速?zèng)_擊循環(huán)效果；平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTC)，以PID方式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量，故能長期穩(wěn)定使用。

除了有生產(chǎn)高低溫循環(huán)沖擊試驗(yàn)機(jī)還有研發(fā)、生產(chǎn)、銷售： 高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕測試箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫實(shí)驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、紫外老化試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱、快速溫變?cè)囼?yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱等模擬環(huán)境檢測試驗(yàn)設(shè)備系列產(chǎn)品，